お知らせ NEWS

HPICを使用したIPC-TM-650メソッド2.3.28による
プリント基板表面の陰イオン測定

2021.04.26

アプリケーション

イオンクロマトグラフィー アプリケーションご紹介


 

AN-1163-IC-Anions-Printed-Circuit-Boards-AN72195-EN【PDF】

半導体製造分野における分析-イオンクロマトグラフィーアプリケーション概要集_抜粋版【PDF】

プリント基板産業では、プリント基板表面のイオン清浄性等に、以前から関心が集まっていました。
イオン清浄性の評価には、イオンクロマトグラフィー(IC)が重要な技術になっています。

本アプリケーションノートでは、Thermo Fisher Scientific社製ICシステムを用いて、IPC-TM-650メソッド2.3.28 に記載されている抽出手順に沿ったICメソッドについてご説明しております。
是非ご覧ください。

※本アプリケーションノートは英語版になっております。日本語版は「半導体製造分野における分析-イオンクロマトグラフィーアプリケーション概要集【PDF】」に掲載があり、ここでは関連ページの抜粋版を掲載いたします。

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